這篇電子工程師論文發(fā)表了電子產(chǎn)品硬件測試技術(shù)的類型和級別，我們國家對電子產(chǎn)品質(zhì)量有著更高的要求，對于發(fā)達(dá)國家來說，電子產(chǎn)品的硬件測試工作數(shù)量要多余開發(fā)人員數(shù)量，論文以電子產(chǎn)品的硬件測試技術(shù)為切入點(diǎn)，探討了電子產(chǎn)品硬件測試的類型和方式，從而在測試中做到有的放矢。
 

　　【關(guān)鍵詞】電子工程師論文,電子產(chǎn)品,硬件

　　眾所周知，電子產(chǎn)品的硬件測試并非只是為了要到問題。而是需要經(jīng)分析問題的成因及分布特性，輔助項(xiàng)目管理人員找到設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)所存在的內(nèi)質(zhì)弊病，進(jìn)而予以有針對性的改進(jìn)。同時(shí)，此類分析亦可輔助測試工作者設(shè)計(jì)出有指向性的檢測方案，因此深化測試的有效性。文章將以論電子產(chǎn)品的硬件測試技術(shù)作為切入點(diǎn)，在此基礎(chǔ)上予以深入的探究，相關(guān)內(nèi)容如下所述。

　　1電子產(chǎn)品硬件測試技術(shù)的類型及方式

　　信號質(zhì)量測試：信號質(zhì)量測試即利用測試單板上的相關(guān)信號，依附于信號類型的差異，通過不同的指標(biāo)去衡量信號的質(zhì)量，同時(shí)對信號質(zhì)量予以分析，進(jìn)而找到系統(tǒng)設(shè)計(jì)所存在的弊病。研發(fā)工作者依附于已有的信號質(zhì)量及CASLatency調(diào)試，在單板調(diào)試過程中完成對單板信號質(zhì)量的整體測試，在此基礎(chǔ)上予以詳盡的記錄。CASLatency測試：對板內(nèi)信號CASLatency予以調(diào)試，檢測信號實(shí)際CASLatency關(guān)系是否達(dá)到相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，有無滿足器件需求;研究設(shè)計(jì)余量，分析單板工作的穩(wěn)定性。

　　開發(fā)工作者依附于既有的信號質(zhì)量及CASLatency調(diào)試，在單板調(diào)試過程中完成對單板CL值(包括邏輯外部CL值)的整體測試。功能測試：對電子產(chǎn)品硬件功能測試是依附于硬件設(shè)計(jì)報(bào)告中的功能指標(biāo)予以測試，檢測設(shè)計(jì)有無達(dá)到要求。

　　容錯(cuò)測試通常允許存在少量的功能異常，但嚴(yán)格杜絕功能喪失及故障擴(kuò)散等嚴(yán)重問題。經(jīng)容錯(cuò)測試，還能夠明確在電子產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用環(huán)節(jié)容易出現(xiàn)的問題，找到根源進(jìn)而以降低損失。因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品基本都要進(jìn)行長時(shí)間的運(yùn)行，因此要予以長時(shí)間的測試。個(gè)別器件若設(shè)計(jì)缺乏合理性，那么很可能在長時(shí)間的運(yùn)行中體現(xiàn)出問題。系統(tǒng)的散熱性能可以在長期大功率運(yùn)行中得以驗(yàn)證。長時(shí)間的運(yùn)行能夠找硬件設(shè)計(jì)錯(cuò)存在的潛在問題。

　　長時(shí)間測試在予以單元測試及集成測試時(shí)也可以找到潛在的問題，對于各功能模塊，我們都需要予以長時(shí)間的功能驗(yàn)證。而驗(yàn)證周期則要依附于電子產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用途徑。針對通信類電子產(chǎn)品硬件，測試時(shí)間通常要超過七天。而針對各功能模塊的測試，通常需要兩天以上。一致性測試：即把各批次的產(chǎn)品分別取樣，進(jìn)而予以測試，在此過程中分析產(chǎn)品功能性是否具備一致性。要對三個(gè)不同批次的器件電子產(chǎn)品予以測試，而測試的內(nèi)容包括主要功能測試項(xiàng)目，同時(shí)還要測試信號質(zhì)量與CASLatency。

　　2電子產(chǎn)品硬件測試的級別

　　電子產(chǎn)品硬件測試依附于系統(tǒng)的繁瑣性通常分為下述幾個(gè)級別：(1)單元測試。針對獨(dú)立功能單元予以測試;(2)集成測試。對具有集成性的下屬系統(tǒng)予以測試;(3)系統(tǒng)測試。對完整的系統(tǒng)予以全面的測試。電子產(chǎn)品的硬件測試切勿只局限于一個(gè)層次，我們要忽視層次間的界限。層與層之間的配合很容易存在潛在的隱患，舉例說明，單板軟件和硬件邏輯配合、高層軟件和單板軟件的配合都很可能存在問題，因此我們可依附于下屬子系統(tǒng)予以劃分。

　　3總結(jié)

　　綜上所述，電子產(chǎn)品的硬件測試并非只是為了要到問題。而是需要經(jīng)分析問題的成因及分布特性，輔助項(xiàng)目管理人員找到設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)所存在的內(nèi)質(zhì)弊病，進(jìn)而予以有針對性的改進(jìn)。同時(shí)，此類分析亦可輔助測試工作者設(shè)計(jì)出有指向性的檢測方案，因此深化測試的有效性。因此對于電子產(chǎn)品硬件測試技術(shù)的類型，我們需要進(jìn)行全面的研究，在測試過程中做到有矢可放。

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　　作者：姚騰飛 張建寧 張毅博

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