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基于遺傳算法的疲勞裂紋擴(kuò)展方法優(yōu)化研究

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  摘 要:當(dāng)前,用于預(yù)測(cè)疲勞裂紋擴(kuò)展的方法多種多樣,但無(wú)論哪一種裂紋擴(kuò)展方法,都是以擴(kuò)展點(diǎn)的擴(kuò)展代替整個(gè)裂紋的擴(kuò)展。因此,對(duì)擴(kuò)展點(diǎn)的優(yōu)化具有重要意義。考慮到遺傳算法對(duì)多參數(shù)優(yōu)化具有較好的效果,基于遺傳算法對(duì)擴(kuò)展點(diǎn)的個(gè)數(shù)和分布進(jìn)行了優(yōu)化研究;引進(jìn)了“位置比”這個(gè)概念,以最外側(cè)擴(kuò)展點(diǎn)的位置比表征擴(kuò)展點(diǎn)的分布;介紹了一種裂紋擴(kuò)展的數(shù)值方法,計(jì)算數(shù)值結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的誤差,取該誤差的倒數(shù)作為個(gè)體適應(yīng)度。結(jié)果表明,當(dāng)擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù)和最外側(cè)擴(kuò)展點(diǎn)位置比分別為11和0.95時(shí),個(gè)體適應(yīng)度最高,數(shù)值預(yù)測(cè)精度最好。

  關(guān)鍵詞:遺傳算法;裂紋擴(kuò)展;擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù);位置比;優(yōu)化

  引言(Introduction)

  工程構(gòu)件在生產(chǎn)、安裝、使用過(guò)程中,難免會(huì)受到擠壓、劃傷等,造成表面損傷。在循環(huán)荷載作用下,這些表面損傷將演變?yōu)楸砻媪鸭y,最終斷裂,從而導(dǎo)致構(gòu)件失效。因此,研究表面裂紋的擴(kuò)展機(jī)理具有很大的經(jīng)濟(jì)價(jià)值和現(xiàn)實(shí)意義[1-4]。LIN等[5]、WU[6]通過(guò)三次樣條曲線擬合表面裂紋擴(kuò)展形狀,而NEWMAN等[7]、SONG等[8]和LIU等[9]則通過(guò)橢圓弧擬合表面裂紋擴(kuò)展形狀,雖然他們使用的裂紋擴(kuò)展方法不同,但都是通過(guò)對(duì)擴(kuò)展點(diǎn)的擬合得到擴(kuò)展結(jié)果的。因此,對(duì)擴(kuò)展點(diǎn)的優(yōu)化具有重要意義。

  遺傳算法作為一種最優(yōu)算法,在很多領(lǐng)域得到應(yīng)用[10-12]。隨著遺傳算法的不斷完善,其應(yīng)用的領(lǐng)域也越來(lái)越廣[13-16]。考慮到遺傳算法對(duì)多參數(shù)優(yōu)化具有較好的優(yōu)化效果,本文基于遺傳算法對(duì)裂紋擴(kuò)展過(guò)程中的擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù)與分布進(jìn)行了優(yōu)化研究。

  2 裂紋擴(kuò)展方法(Crack growth method)

  2.1 位置比的確定

  圖1是位置比的示意圖,其定義如式(1)所示,其中代表裂紋上的任何點(diǎn)p到裂紋最深點(diǎn)的距離,代表表面點(diǎn)到裂紋最深點(diǎn)的距離。對(duì)于一個(gè)給定的裂縫,因?yàn)樽钌畹狞c(diǎn)和表面點(diǎn)是固定的,也是固定的。點(diǎn)p的位置發(fā)生變化,也發(fā)生變化,從而使R發(fā)生變化。換句話說(shuō),每一個(gè)點(diǎn)p的位置對(duì)應(yīng)一個(gè)R,反過(guò)來(lái),給出一個(gè)R也就能確定點(diǎn)p的位置。

  2.2 裂紋擴(kuò)展步驟

  當(dāng)裂紋從第條裂紋擴(kuò)展到第 條裂紋時(shí),其裂紋擴(kuò)展示意圖如圖2所示。

  其具體步驟如下:

  (1)在第條裂紋上取N 個(gè)擴(kuò)展點(diǎn),其坐標(biāo)為,代表第個(gè)擴(kuò)展點(diǎn),其取值為1到N。

  (2)計(jì)算第 個(gè)擴(kuò)展點(diǎn)的擴(kuò)展步長(zhǎng)。其中是第條裂紋上的第 個(gè)擴(kuò)展點(diǎn)的應(yīng)力強(qiáng)度因子幅,是第條裂紋上的第1 個(gè)擴(kuò)展點(diǎn)的應(yīng)力強(qiáng)度因子幅。是第1 個(gè)擴(kuò)展點(diǎn)的擴(kuò)展量。

  (3)根據(jù)擴(kuò)展點(diǎn)垂直于當(dāng)前裂紋,求出擴(kuò)展后的第 個(gè)擴(kuò)展點(diǎn)pj,其坐標(biāo)為。

  (4)根據(jù)每個(gè)擴(kuò)展點(diǎn)擴(kuò)展后的坐標(biāo),擬合出第 條裂紋。

  (5)將第條裂紋上的擴(kuò)展點(diǎn)垂線與第 條裂紋的交點(diǎn)作為第 條裂紋的擴(kuò)展點(diǎn),其坐標(biāo)為。

  由于第1 條裂紋是已知的,從而可以得出第2 條裂紋,依次迭代可以得出整個(gè)擴(kuò)展過(guò)程的所有裂紋。

  3 數(shù)值結(jié)果處理(Numerical result processing)

  考慮到優(yōu)化時(shí)需要一個(gè)優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn),因此提出一種可以量化數(shù)值結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果誤差的方法。其原理是用一條曲線擬合實(shí)驗(yàn)結(jié)果,然后以擬合曲線與數(shù)值曲線的接近程度作為優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果來(lái)源于TORIBIO等人[17]。

  3.1 實(shí)驗(yàn)結(jié)果的處理

  圖3是用Origin軟件擬合實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)后的結(jié)果圖。圖3中的擬合結(jié)果如表1所示。則實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)擬合曲線的方程為:

  3.2 數(shù)值結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的誤差計(jì)算

  經(jīng)過(guò)將實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)擬合后,實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以用一條曲線代替,而數(shù)值結(jié)果也能用一條曲線表示,因此,可以將數(shù)值結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的誤差用兩條曲線的誤差代替。其示意圖如圖4所示,具體步驟如下:

  (1)將數(shù)值結(jié)果中的n 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)連接起來(lái)。

  (2)在實(shí)驗(yàn)擬合曲線中取出n 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),保證兩條曲線中的n 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的相對(duì)裂紋深度相同。

  (3)計(jì)算兩條曲線中n 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的相對(duì)裂紋弦長(zhǎng)差。

  (4)計(jì)算兩條曲線的誤差。

  4 基于遺傳算法的研究方法(Research method based on genetic algorithm)

  遺傳算法的優(yōu)化目標(biāo)包括擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù)和擴(kuò)展點(diǎn)分布,其中擴(kuò)展點(diǎn)分布是通過(guò)最外側(cè)擴(kuò)展點(diǎn)的位置比實(shí)現(xiàn)的。遺傳算法所選取的種群個(gè)數(shù)為8,實(shí)現(xiàn)步驟可以分為六步,即編碼、解碼、求解適應(yīng)度、復(fù)制、交叉、變異。

  (1)編碼

  根據(jù)經(jīng)驗(yàn),擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù)一般小于20,擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù)范圍選為3—18,共16 種選擇;而擴(kuò)展點(diǎn)位置比為0.11、0.23、0.35、0.47、0.59、0.71、0.83和0.95,共八種選擇。

  因此,染色體位數(shù)選擇為七位,前四位代表擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù),后三位代表位置比,相對(duì)應(yīng)的關(guān)系如表2和表3所示。可以將相關(guān)參數(shù)轉(zhuǎn)換成染色體編號(hào)。

  (2)解碼

  解碼規(guī)則與編碼規(guī)則是相對(duì)應(yīng)的,可以根據(jù)染色體編號(hào)通過(guò)查詢表2和表3獲得對(duì)應(yīng)的相關(guān)參數(shù)。

  (3)求解適應(yīng)度

  每個(gè)個(gè)體中的染色體都能通過(guò)解碼找到其對(duì)應(yīng)的擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù)和位置比,通過(guò)這兩個(gè)參數(shù)就能得到相應(yīng)的數(shù)值結(jié)果,再將數(shù)值結(jié)果進(jìn)行處理,就得到了數(shù)值結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的誤差,最后取誤差的倒數(shù)作為該個(gè)體的適應(yīng)度。

  (4)復(fù)制

  將種群中適應(yīng)度最低的個(gè)體用適應(yīng)度最高的個(gè)體替代,就是更新后的種群。

  (5)交叉

  種群中個(gè)體與個(gè)體間有一定概率發(fā)生部分染色體交換的情況,用MATLAB實(shí)現(xiàn)的代碼如圖5所示。

  (6)變異

  除了個(gè)體與個(gè)體之間的交換會(huì)改變?nèi)旧w外,每個(gè)個(gè)體自身的變異也會(huì)改變?nèi)旧w的編號(hào),用MATLAB實(shí)現(xiàn)的代碼如圖6所示。

  5 種群進(jìn)化(Population evolution)

  首先,種群的第一代個(gè)體所對(duì)應(yīng)的染色體編號(hào)由電腦隨機(jī)生成,其相關(guān)信息如表4所示。個(gè)體3適應(yīng)度最小,個(gè)體4適應(yīng)度最大。

  將第一代種群進(jìn)行復(fù)制、交叉與變異后得到第二代種群,其相關(guān)信息如表5所示。個(gè)體3適應(yīng)度最小,個(gè)體8適應(yīng)度最大。

  將第二代種群進(jìn)行復(fù)制、交叉與變異后得到第三代種群,其相關(guān)信息如表6所示。個(gè)體8適應(yīng)度最小,個(gè)體4適應(yīng)度最大。

  將第三代種群進(jìn)行復(fù)制、交叉與變異后得到第四代種群,其相關(guān)信息如表7所示。個(gè)體1適應(yīng)度最小,個(gè)體3適應(yīng)度最大。

  將第四代種群進(jìn)行復(fù)制、交叉與變異后得到第五代種群,其相關(guān)信息如表8所示。個(gè)體3適應(yīng)度最小,個(gè)體5適應(yīng)度最大。

  將第五代種群進(jìn)行復(fù)制、交叉與變異后得到第六代種群,其相關(guān)信息如表9所示。個(gè)體2適應(yīng)度最小,個(gè)體1適應(yīng)度最大。

  將第六代種群進(jìn)行復(fù)制、交叉與變異后得到第七代種群,其相關(guān)信息如表10所示。個(gè)體6適應(yīng)度最小,個(gè)體2和個(gè)體3適應(yīng)度最大。

  將第七代種群進(jìn)行復(fù)制、交叉與變異后得到第八代種群,其相關(guān)信息如表11所示。個(gè)體3適應(yīng)度最小,個(gè)體2和個(gè)體6適應(yīng)度最大。

  6 結(jié)果與討論(Results and discussion)

  將每代種群中最高的個(gè)體適應(yīng)度作為該代種群中最佳適應(yīng)度,從而可以得到種群中最佳適應(yīng)度與種群迭代次數(shù)的關(guān)系,如圖7所示。從圖7中可以看出,當(dāng)種群從第五代開(kāi)始,種群中最佳適應(yīng)度就一直維持在同一個(gè)水平。說(shuō)明此時(shí)的種群已經(jīng)進(jìn)化到最佳狀態(tài),則種群中最佳適應(yīng)度對(duì)應(yīng)的個(gè)體就是最佳個(gè)體,其對(duì)應(yīng)的染色體編號(hào)為1000111,經(jīng)過(guò)解碼后,得知其對(duì)應(yīng)的擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù)和位置比分別為11和0.95。

  對(duì)于擴(kuò)展點(diǎn),當(dāng)擴(kuò)展點(diǎn)較少時(shí),用于預(yù)測(cè)下一條裂紋的擬合數(shù)據(jù)較少,導(dǎo)致誤差偏大;而當(dāng)擴(kuò)展點(diǎn)較多時(shí),由于在模型計(jì)算中劃分網(wǎng)格精度不高,計(jì)算出的應(yīng)力強(qiáng)度因子幅誤差偏大,從而使得單個(gè)擴(kuò)展點(diǎn)精度不足,進(jìn)而誤差也偏大。對(duì)于位置比,位置比越大,最外側(cè)擴(kuò)展點(diǎn)越接近圓柱體表面,擴(kuò)展點(diǎn)在整個(gè)裂紋前沿的分布范圍也越廣,也就越有利于減小誤差。

  7 結(jié)論(Conclusion)

  本文通過(guò)遺傳算法對(duì)疲勞裂紋擴(kuò)展過(guò)程中擴(kuò)展點(diǎn)的個(gè)數(shù)和分布進(jìn)行了優(yōu)化研究。具體結(jié)論如下:

  (1)引進(jìn)了位置比的概念,通過(guò)改變位置比實(shí)現(xiàn)對(duì)擴(kuò)展點(diǎn)分布的改變。介紹了疲勞裂紋擴(kuò)展方法,通過(guò)該方法可以實(shí)現(xiàn)在不同擴(kuò)展點(diǎn)個(gè)數(shù)和分布下的數(shù)值擴(kuò)展。

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